HAST高加速應(yīng)力老化試驗(yàn)箱生產(chǎn)廠家廣東皓天檢測(cè)儀器有限公司擁有專業(yè)的生產(chǎn)研發(fā)技術(shù)，一站式周到服務(wù)。作為一家專注于試驗(yàn)設(shè)備產(chǎn)品的大型儀器制造商，皓天設(shè)備致力于為消費(fèi)者提供技術(shù)、品質(zhì)的優(yōu)秀產(chǎn)品。

產(chǎn)品詳情
HAST老化試驗(yàn)箱，是采用高溫、高濕、高壓的非飽和蒸汽環(huán)境，對(duì)電子產(chǎn)品及材料進(jìn)行加速老化與可靠性評(píng)估的專用精密設(shè)備。它通過(guò)創(chuàng)造遠(yuǎn)高于常態(tài)的嚴(yán)苛應(yīng)力條件，能在極短時(shí)間內(nèi)模擬產(chǎn)品在長(zhǎng)期自然使用中可能出現(xiàn)的失效，極大縮短了產(chǎn)品研發(fā)與質(zhì)量驗(yàn)證周期。

主要用途
本設(shè)備專用于評(píng)估電子產(chǎn)品、半導(dǎo)體元器件、集成電路、PCB板、新型材料及封裝結(jié)構(gòu)的長(zhǎng)期可靠性與耐候性。尤其適用于測(cè)試其抗吸濕性、防腐蝕能力、電遷移以及封裝樹(shù)脂的穩(wěn)定性，是發(fā)現(xiàn)設(shè)計(jì)缺陷、篩選早期失效、驗(yàn)證工藝質(zhì)量的工具。

HAST高加速應(yīng)力老化試驗(yàn)箱

工作原理
HAST試驗(yàn)基于“阿倫尼烏斯方程"等加速模型。其核心是在一個(gè)密閉的壓力容器內(nèi)，通過(guò)加熱純水產(chǎn)生非飽和過(guò)壓蒸汽（通常條件為110℃-142℃，0.1-0.3MPa），形成高溫、高濕、高壓的復(fù)合應(yīng)力環(huán)境。這種環(huán)境能極大加速水分通過(guò)封裝材料滲透到器件內(nèi)部的速度，從而誘發(fā)并加速在常溫常壓下需要數(shù)年才會(huì)出現(xiàn)的潮氣相關(guān)失效（如腐蝕、枝晶生長(zhǎng)、分層等）。

主要功能及特點(diǎn)

1. 高速加速：提供加速因子（可達(dá)常規(guī)高溫高濕測(cè)試的數(shù)十至上百倍），實(shí)現(xiàn)時(shí)間壓縮。

2. 精準(zhǔn)控制：采用高精度微電腦控制器，對(duì)溫度、濕度（通過(guò)壓力控制間接實(shí)現(xiàn)）、壓力進(jìn)行全自動(dòng)、穩(wěn)定、均勻的閉環(huán)控制。

3. 安全可靠：配備多重超溫超壓安全保護(hù)裝置、防爆泄壓口、異常報(bào)警及自動(dòng)斷電功能，確保試驗(yàn)過(guò)程安全。

4. 人性化設(shè)計(jì)：大尺寸觀察窗、人性化操作界面、歷史數(shù)據(jù)記錄與導(dǎo)出功能，便于實(shí)時(shí)觀察與追溯分析。

5. 多功能兼容：部分型號(hào)可集成偏壓供電系統(tǒng)（B-HAST），在施加環(huán)境應(yīng)力的同時(shí)進(jìn)行通電測(cè)試。

應(yīng)用場(chǎng)景

• 半導(dǎo)體行業(yè)：芯片、晶圓、各種封裝形式（如BGA, QFP）的可靠性評(píng)估與壽命測(cè)試。

• 汽車電子：滿足AEC-Q100/101/200等車規(guī)級(jí)可靠性認(rèn)證要求。

• 航空航天：對(duì)高可靠性元器件進(jìn)行環(huán)境應(yīng)力篩選（ESS）。

• 科研與質(zhì)檢機(jī)構(gòu)：用于新材料、新工藝、新涂層的耐濕熱老化研究。

• 消費(fèi)電子：快速評(píng)估手機(jī)組件、顯示模組等在潮濕氣候下的耐久性。

技術(shù)特點(diǎn)

• 非飽和蒸汽技術(shù)：避免冷凝水直接滴落樣品，測(cè)試條件更嚴(yán)苛、更真實(shí)。

• 快速溫壓恢復(fù)：開(kāi)門取樣后，能迅速恢復(fù)至設(shè)定試驗(yàn)條件，提升測(cè)試效率。

• 優(yōu)異的均勻性：通過(guò)氣流與加熱設(shè)計(jì)，確保工作空間內(nèi)溫濕度場(chǎng)高度均勻。

• 遵循國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)：嚴(yán)格符合JESD22-A110（HAST）、JESD22-A118、IPC-TM-650等國(guó)際主流測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。