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可靠性HAST老化箱 加速應(yīng)力測(cè)試是一種用于模擬嚴(yán)苛溫濕度及偏壓環(huán)境的可靠性測(cè)試設(shè)備。它通過施加高溫、高濕、高壓及電偏壓等多應(yīng)力條件，快速激發(fā)電子元器件的潛在缺陷，大幅縮短傳統(tǒng)老化測(cè)試時(shí)間，是評(píng)估產(chǎn)品壽命與可靠性的關(guān)鍵工具。

非飽和高壓加速老化箱 HAST試驗(yàn)機(jī)是一款專業(yè)的非飽和高壓加速應(yīng)力試驗(yàn)（HAST）設(shè)備，專為電子元器件、半導(dǎo)體芯片、集成電路、封裝材料及新能源材料的可靠性壽命評(píng)估而設(shè)計(jì)。它通過創(chuàng)造高溫、高濕、高壓（非飽和蒸汽）的嚴(yán)苛環(huán)境，在短時(shí)間內(nèi)加速材料老化、腐蝕及失效過程，是產(chǎn)品研發(fā)與質(zhì)量管控的關(guān)鍵工具。

HAST加速老化箱 集成電路可靠性評(píng)估設(shè)備是一種利用高溫、高濕、高壓非飽和蒸汽環(huán)境，對(duì)電子產(chǎn)品（尤其是集成電路）進(jìn)行快速可靠性評(píng)估與壽命預(yù)測(cè)的專用環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備。它通過極大地加速由濕氣滲透引發(fā)的失效過程，能夠在幾天或幾周內(nèi)模擬出正常大氣環(huán)境下數(shù)年才能出現(xiàn)的故障，是電子元器件可靠性驗(yàn)證和工藝篩選的關(guān)鍵工具。

高壓加速老化試驗(yàn)箱 電子元件可靠性測(cè)試是一種利用高溫、高濕、高壓環(huán)境，對(duì)電子元器件、半導(dǎo)體芯片、集成電路封裝、PCB及新材料等進(jìn)行加速老化壽命測(cè)試及耐環(huán)境可靠性評(píng)估的環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備。它通過模擬并化產(chǎn)品在高溫高濕環(huán)境下的劣化過程，在實(shí)驗(yàn)室短時(shí)間內(nèi)快速評(píng)估其長(zhǎng)期可靠性，是現(xiàn)代電子產(chǎn)品質(zhì)量控制與可靠性工程的關(guān)鍵工具。