HAST試驗機(jī) 電子產(chǎn)品加速溫濕度老化試驗箱生產(chǎn)廠家廣東皓天檢測儀器有限公司擁有專業(yè)的生產(chǎn)研發(fā)技術(shù)，一站式周到服務(wù)。作為一家專注于試驗設(shè)備產(chǎn)品的大型儀器制造商，皓天設(shè)備致力于為消費(fèi)者提供技術(shù)、品質(zhì)的優(yōu)秀產(chǎn)品。

一、 主要用途

本設(shè)備專用于評估電子產(chǎn)品（尤其是半導(dǎo)體器件、集成電路、印刷電路板組件、新型材料及封裝工藝）在潮濕環(huán)境下的長期可靠性壽命和抗?jié)駳鉂B透能力。它能快速暴露產(chǎn)品的潛在缺陷，如芯片腐蝕、金屬遷移、封裝開裂、分層等現(xiàn)象，廣泛應(yīng)用于研發(fā)、質(zhì)量控制和失效分析領(lǐng)域。

HAST試驗機(jī) 電子產(chǎn)品加速溫濕度老化試驗箱

二、 工作原理

HAST試驗基于阿倫尼烏斯方程和濕氣擴(kuò)散模型。設(shè)備在密閉腔體內(nèi)，通過電加熱純水產(chǎn)生高壓飽和蒸汽。通過精確控制加熱功率與壓力，創(chuàng)造出一個溫度高于100℃（如110℃-150℃）、相對濕度85%-100%、同時施加一定壓力（如0.2-0.3MPa）的非飽和蒸汽環(huán)境。這種“高溫高濕高壓"的疊加狀態(tài)，極大地加速了水汽向產(chǎn)品封裝內(nèi)部的滲透速度和內(nèi)部的化學(xué)反應(yīng)速率，從而將通常需要數(shù)千小時的戶外潮濕環(huán)境暴露試驗，縮短至幾十至幾百小時內(nèi)完成。

三、 技術(shù)參數(shù)

• 溫度范圍：105℃ ~ 150℃（可設(shè)定，常用130℃）

• 濕度范圍：85% ~ 100% RH（非飽和狀態(tài)）

• 壓力范圍：0.02 ~ 0.3 MPa（表壓）

• 升溫/升壓時間：通常在30-60分鐘內(nèi)達(dá)到穩(wěn)定測試條件

• 控制精度：溫度±0.5℃，濕度±2.0% RH，壓力±2 kPa

• 內(nèi)箱材質(zhì)：高級不銹鋼，耐腐蝕

• 安全裝置：超溫、超壓、漏電、缺水等多重保護(hù)

四、 主要功能及特點(diǎn)

1. 加速因子：相比傳統(tǒng)85℃/85% RH測試，效率可提升數(shù)十倍至百倍，極大縮短產(chǎn)品驗證周期。

2. 精密控制：采用微電腦PID+SSR控制，實(shí)現(xiàn)溫度、濕度、壓力的獨(dú)立精確控制與穩(wěn)定。

3. 安全可靠：具備多重機(jī)械與電氣安全聯(lián)鎖，門體采用高強(qiáng)度快開門設(shè)計，確保高壓操作安全。

4. 實(shí)時監(jiān)控：大屏觸摸屏顯示，實(shí)時記錄并存儲全過程曲線與數(shù)據(jù)，支持U盤導(dǎo)出。

5. 多功能擴(kuò)展：可選配通電偏壓測試裝置，在老化同時對樣品施加動態(tài)或靜態(tài)電應(yīng)力，模擬真實(shí)工作狀態(tài)。

五、 應(yīng)用場景

• 半導(dǎo)體行業(yè)：芯片、晶圓、各類封裝器件（QFN, BGA, CSP等）的可靠性考核。

• 汽車電子：滿足AEC-Q100等車規(guī)級可靠性標(biāo)準(zhǔn)中的嚴(yán)苛潮濕環(huán)境測試要求。

• 航天：高可靠性電子元器件的篩選與壽命評估。

• 新材料研發(fā)：評估封裝樹脂、底部填充膠、涂層等材料的防潮性能。

• 失效分析：快速復(fù)現(xiàn)并定位產(chǎn)品在潮濕環(huán)境下的失效模式與機(jī)理。