可靠性HAST老化箱 加速應(yīng)力測試生產(chǎn)廠家廣東皓天檢測儀器有限公司擁有專業(yè)的生產(chǎn)研發(fā)技術(shù)，一站式周到服務(wù)。作為一家專注于試驗(yàn)設(shè)備產(chǎn)品的大型儀器制造商，皓天設(shè)備致力于為消費(fèi)者提供技術(shù)、品質(zhì)的優(yōu)秀產(chǎn)品。

產(chǎn)品詳情

可靠性HAST（高加速應(yīng)力測試）老化箱是一種用于模擬嚴(yán)苛溫濕度及偏壓環(huán)境的可靠性測試設(shè)備。它通過施加高溫、高濕、高壓及電偏壓等多應(yīng)力條件，快速激發(fā)電子元器件的潛在缺陷，大幅縮短傳統(tǒng)老化測試時(shí)間，是評(píng)估產(chǎn)品壽命與可靠性的關(guān)鍵工具。

主要用途

本設(shè)備主要用于半導(dǎo)體芯片、集成電路（IC）、微電子封裝器件、PCB模塊、新型電子材料及元件的可靠性驗(yàn)證與壽命評(píng)估。廣泛應(yīng)用于研發(fā)階段的失效分析、量產(chǎn)前的質(zhì)量篩選以及產(chǎn)品可靠性的定量評(píng)估。

可靠性HAST老化箱 加速應(yīng)力測試

技術(shù)參數(shù)

• 溫度范圍： +105℃ 至 +142℃（典型）

• 濕度范圍： 75% RH 至 100% RH（非飽和/飽和狀態(tài)）

• 壓力范圍： 常壓至 3 個(gè)大氣壓

• 升溫/降溫速率： 可快速升降溫（具體依型號(hào)而定）

• 控制精度： 溫度±0.5℃，濕度±2.5% RH

• 內(nèi)箱材質(zhì)： 高級(jí)不銹鋼（SUS304，耐腐蝕）

• 外箱材質(zhì)： 優(yōu)質(zhì)冷軋鋼板噴塑或不銹鋼

箱體結(jié)構(gòu)與材質(zhì)

• 結(jié)構(gòu)： 采用高強(qiáng)度雙層框架，內(nèi)箱為無縫焊接，確保氣密性與承壓安全。

• 內(nèi)膽： SUS304不銹鋼，耐高溫高濕腐蝕。

• 保溫層： 高強(qiáng)度聚氨酯發(fā)泡，高效保溫節(jié)能。

• 大門： 雙道硅膠密封條，帶高強(qiáng)度鎖緊機(jī)構(gòu)，確保高壓安全。

• 觀察窗： 多層鋼化玻璃，帶防凝露加熱膜。

工作原理

設(shè)備通過電加熱與蒸汽發(fā)生系統(tǒng)，在密閉的加壓腔體內(nèi)迅速建立高溫高濕環(huán)境。通過精密傳感器與PID控制系統(tǒng)，實(shí)時(shí)調(diào)節(jié)溫度、濕度與內(nèi)部壓力至設(shè)定值。被測樣品在承受此環(huán)境應(yīng)力的同時(shí)，可疊加直流或交流電偏壓，實(shí)現(xiàn)溫-濕-電-壓多應(yīng)力復(fù)合加速老化，其失效機(jī)理與常規(guī)老化一致，但時(shí)間大幅縮短。

滿足標(biāo)準(zhǔn)

• JESD22-A110 (JEDEC HAST)

• IEC 60068-2-66

• MIL-STD-883

• GB/T 2423.40

• 及各企業(yè)自定義的加速壽命測試規(guī)范。

應(yīng)用領(lǐng)域

• 半導(dǎo)體行業(yè)： 晶圓、芯片、封裝可靠性測試。

• 汽車電子： 車規(guī)級(jí)芯片與模塊的耐久性驗(yàn)證。

• 航空航天： 高可靠性元器件篩選。

• 通信設(shè)備： 5G模塊、光器件可靠性評(píng)估。

• 科研機(jī)構(gòu)與質(zhì)檢單位： 材料與器件失效分析研究。

產(chǎn)品特點(diǎn)

1. 高效加速： 較傳統(tǒng)高溫高濕（THB）測試效率提升數(shù)倍至數(shù)十倍。

2. 控制精準(zhǔn)： 采用多級(jí)PID與模糊算法，溫濕度波動(dòng)小，測試重復(fù)性高。

3. 安全可靠： 具備超溫、超壓、漏電、缺水等多重安全保護(hù)與報(bào)警。

4. 人性化設(shè)計(jì)： 大尺寸觸摸屏，圖形化界面，支持程序編輯與數(shù)據(jù)導(dǎo)出。

5. 擴(kuò)展性強(qiáng)： 可集成多路偏壓電源與監(jiān)控系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測試。

風(fēng)道系統(tǒng)

采用上送風(fēng)、下回風(fēng)的垂直層流循環(huán)方式，配以大功率長軸電機(jī)與定制離心風(fēng)輪。風(fēng)道經(jīng)CFD優(yōu)化，確保箱內(nèi)溫濕度均勻度（通?？蛇_(dá)±1℃，±3% RH），避免測試死角，保證所有樣品承受一致的環(huán)境應(yīng)力。