HAST加速老化試驗箱 用于芯片級可靠性評估生產(chǎn)廠家廣東皓天檢測儀器有限公司擁有專業(yè)的生產(chǎn)研發(fā)技術(shù)，一站式周到服務(wù)。作為一家專注于試驗設(shè)備產(chǎn)品的大型儀器制造商，皓天設(shè)備致力于為消費(fèi)者提供技術(shù)、品質(zhì)的優(yōu)秀產(chǎn)品。

產(chǎn)品概述
HAST高加速應(yīng)力試驗箱，是專為半導(dǎo)體、集成電路及電子元器件進(jìn)行快速可靠性評估與壽命預(yù)測而設(shè)計的核心環(huán)境模擬設(shè)備。它通過創(chuàng)造高溫、高濕、高壓的非飽和蒸汽環(huán)境，在極短時間內(nèi)加速產(chǎn)品因潮氣侵入、電化學(xué)腐蝕等引發(fā)的失效，從而高效評估芯片在嚴(yán)苛環(huán)境下的長期可靠性和封裝質(zhì)量。

主要用途
本設(shè)備主要用于芯片（IC）、晶圓、封裝器件、分立元件等在潮濕環(huán)境下的加速壽命試驗（ALTs）和高加速應(yīng)力篩選（HASS）。其核心目的是在實驗室環(huán)境下，模擬自然濕熱老化數(shù)月至數(shù)年的效果，快速暴露封裝完整性、材料兼容性、鈍化層質(zhì)量和金屬互連腐蝕等潛在缺陷。

HAST加速老化試驗箱 用于芯片級可靠性評估

技術(shù)參數(shù)

• 試驗溫度范圍： 105℃ ~ 142℃

• 試驗濕度范圍： 75% ~ 100% RH（非飽和狀態(tài)）

• 壓力范圍： 0.02 ~ 0.4 MPa（表壓）

• 溫濕度均勻度： ≤±0.5℃ / ≤±2.0% RH

• 升溫/加濕時間： 約30分鐘內(nèi)達(dá)到142℃, 85% RH

• 內(nèi)箱材質(zhì)： 316L不銹鋼（高耐腐蝕）

• 控制精度： 溫度±0.1℃, 濕度±1.0% RH

• 符合標(biāo)準(zhǔn)： JESD22-A110 (HAST), JESD22-A101 (穩(wěn)態(tài)溫濕度偏壓), AEC-Q100, MIL-STD等。

工作原理
HAST試驗箱通過精密電熱系統(tǒng)加熱純水（去離子水）產(chǎn)生高溫蒸汽，并利用高精度壓力控制系統(tǒng)維持箱內(nèi)設(shè)定的恒定氣壓（通常高于常壓）。在高溫（通常105℃以上）與高壓的共同作用下，水蒸氣以非飽和狀態(tài)（相對濕度通常設(shè)定為85%）快速穿透芯片封裝材料（如環(huán)氧樹脂、有機(jī)基板），在內(nèi)部金屬線路上凝結(jié)，加速電化學(xué)反應(yīng)（如離子遷移、金屬腐蝕）和材料劣化，從而實現(xiàn)失效機(jī)理的加速再現(xiàn)。

主要功能及特點

1. 高速加速性： 相比傳統(tǒng)的85℃/85% RH穩(wěn)態(tài)溫濕度試驗，可提供高達(dá)數(shù)倍至數(shù)十倍的加速因子，極大縮短測試周期。

2. 高精度控制： 采用多段PID智能控制與高靈敏度傳感器，確保溫、濕、壓三個關(guān)鍵參數(shù)長期穩(wěn)定精確，保證試驗數(shù)據(jù)的可重復(fù)性與可比性。

3. 多重安全防護(hù)： 具備超溫、超壓、缺水、漏電等多重聯(lián)鎖保護(hù)，并采用高強(qiáng)度防爆門設(shè)計，確保設(shè)備和操作人員安全。

4. 人性化操作： 配備彩色觸摸屏與中文界面，可編程多段復(fù)雜測試曲線，數(shù)據(jù)實時記錄與存儲，支持遠(yuǎn)程監(jiān)控。

5. 低維護(hù)設(shè)計： 內(nèi)膽采用全鏡面不銹鋼無縫焊接，防止水垢積聚；具備自動補(bǔ)水與循環(huán)水過濾系統(tǒng)。

應(yīng)用場景

• 半導(dǎo)體研發(fā)與質(zhì)控： 評估新材料（如Low-k介質(zhì)、新型封裝膠）、新工藝（如TSV、扇出型封裝）的長期可靠性。

• 汽車電子認(rèn)證： 進(jìn)行AEC-Q100等車規(guī)級芯片的強(qiáng)制可靠性測試。

• 航空航天： 篩選高可靠性等級元器件，剔除早期失效品。

• 消費(fèi)電子與通信： 驗證手機(jī)芯片、5G模塊等在高溫高濕環(huán)境下的使用壽命。

• 失效分析輔助： 為失效分析（FA）提供加速誘因，快速定位封裝或材料薄弱環(huán)節(jié)。

技術(shù)特點
本設(shè)備的核心優(yōu)勢在于其創(chuàng)造的 “非飽和"高壓蒸汽環(huán)境。相較于飽和蒸汽（如壓力鍋PCT試驗），非飽和條件（RH < 100%）允許更快的蒸汽擴(kuò)散速率和更貼近實際應(yīng)用場景的失效模式，避免飽和環(huán)境可能導(dǎo)致的過度應(yīng)力（如熱沖擊）和與實際不符的失效機(jī)理。這使其成為業(yè)界更精確、更高效的芯片級可靠性評估工具。