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塔式材料紫外線老化試驗箱芯片封裝

塔式材料紫外線老化試驗箱芯片封裝
五是樣品托盤采用陶瓷隔熱材質(zhì),減少不同樣品間的熱傳導干擾,適合多品種同步測試。

  • 產(chǎn)品型號:HT-UV3
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時間:2025-07-17
  • 訪  問  量:178
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塔式材料紫外線老化試驗箱芯片封裝

工作原理:采用塔式聚焦式紫外線照射結(jié)構(gòu),頂部高功率燈管陣列形成定向輻照區(qū),配合多層樣品托盤實現(xiàn)芯片封裝件的分層測試。設(shè)備通過紫外線穿透封裝膠體(如環(huán)氧塑封料、硅膠),引發(fā)高分子材料交聯(lián)或降解,同時結(jié)合溫濕度循環(huán)系統(tǒng)模擬晝夜溫差與潮濕環(huán)境,加速封裝層開裂、引線氧化、鍵合失效等老化現(xiàn)象。微氣流控制技術(shù)可精準調(diào)節(jié)芯片表面風速(0.2-1m/s),復現(xiàn)芯片工作時的散熱條件,實現(xiàn) “光 - 熱 - 濕 - 力" 多因素耦合老化模擬。



塔式材料紫外線老化試驗箱芯片封裝

塔式材料紫外線老化試驗箱芯片封裝

用途:專為芯片封裝可靠性測試設(shè)計,用于評估集成電路、功率器件等封裝結(jié)構(gòu)在戶外或高溫環(huán)境下的耐老化性能。可測試塑封料黃變、引線鍵合強度衰減、焊點氧化、密封膠失效等問題,為封裝材料選型(如低應(yīng)力環(huán)氧、高耐候硅膠)、封裝工藝優(yōu)化(如引線鍵合參數(shù)、塑封壓力)及芯片使用壽命預測提供關(guān)鍵數(shù)據(jù),保障汽車電子、工業(yè)控制、戶外光伏等領(lǐng)域芯片的長期穩(wěn)定運行。


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技術(shù)參數(shù):紫外線波長聚焦 300-400nm(以 UVA-351 為主,模擬陽光透過玻璃后的紫外線成分),輻照度調(diào)節(jié)范圍 0.3-1.2W/m2,均勻度≥90%;工作室尺寸 500×500×600mm,溫度控制范圍 - 40℃-125℃,溫度變化速率 5℃/min(-40℃至 125℃);濕度控制 10%-95% RH,波動度 ±3%;測試周期 1-9999 小時,可容納 8 英寸晶圓級封裝件或 50 片 SOP、QFP 等封裝形式芯片,支持同時測試 10 組不同型號樣品。

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溫度控制系統(tǒng):采用三回路 PID 控溫技術(shù),結(jié)合鉑金電阻與紅外雙傳感器,實現(xiàn)箱內(nèi)環(huán)境溫度與芯片結(jié)溫的同步監(jiān)控,控溫精度 ±0.5℃。搭載智能熱補償算法,可根據(jù)紫外線輻照度自動調(diào)節(jié)加熱功率,避免局部過熱導致的測試偏差。配備獨立超溫保護系統(tǒng)(響應(yīng)時間<0.1s),當溫度超過設(shè)定值 10℃時自動切斷電源并啟動風冷,防止芯片樣品損壞。

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產(chǎn)品優(yōu)勢:一是搭載芯片電性能在線監(jiān)測模塊,可實時采集老化過程中的漏電流、導通電阻等參數(shù),建立電學性能衰減與材料老化的關(guān)聯(lián)模型;二是采用防電磁干擾設(shè)計,測試過程中對芯片信號的干擾≤1mV,確保電性能監(jiān)測準確性;三是微環(huán)境模擬精度高,可復現(xiàn)芯片工作時的結(jié)溫波動(±2℃)與熱應(yīng)力,測試結(jié)果更貼近實際工況;四是支持與芯片可靠性分析軟件(如 Weibull 分析)對接,自動生成壽命預測報告,提升測試效率



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