科研單位專用小型恒溫恒濕試驗(yàn)箱專業(yè)研發(fā)

適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元器件，在高溫、低溫或濕熱環(huán)境下的各項(xiàng)性能指標(biāo)的檢驗(yàn)；

試驗(yàn)數(shù)據(jù)可通過U盤拷貝，電腦無需安裝任何軟件可直接打開試驗(yàn)曲線或Excel文檔；

結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)周全:水電分離設(shè)計(jì)；溫度均勻性；

同溫層 設(shè)計(jì)，±1.0℃；防止試驗(yàn)頂部滴水；

報警履歷顯示以及故障解除方法。

科研單位專用小型恒溫恒濕試驗(yàn)箱專業(yè)研發(fā)

性能指標(biāo):    

1.溫度范圍: A:0℃～150℃，B:-20℃～150℃，C:-40℃～150℃，D:-60℃～150℃，E:-70℃～150℃

2.溫度波動度: ≤±0.5℃

3.溫度均勻度：≤±2℃

4.濕度范圍：20～98％R.H

5.濕度偏差：±3%R.H

6.濕度波動：±2.5%R.H

7.精度范圍: 溫度：設(shè)定精度±0.1℃，指示精度±0.1℃，解析度±0.1℃；濕度：設(shè)定精度±1％R.H，指示精度±1％R.H，解析度±1％R.H

5.升溫速率: 1.0～3.0℃/min

6.降溫速率: 0.7～1.0℃/min

符合標(biāo)準(zhǔn)：

濕熱試驗(yàn)箱性能指標(biāo)符合GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗(yàn)設(shè)備》的要求

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法GB 2423.1-89 (IEC68-2-1)

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法GB 2423.2-89 (IEC68-2-2)

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法GB/T 2423.3-93（IEC68-2-3）

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Da：交變濕熱試驗(yàn)方法GB/T423.4-93

(IEC68-2-30)